Ram Stress Test是一個維修級內(nèi)存檢測工具，能夠檢測內(nèi)存有哪一塊顆粒損壞，PCB板有沒有短路或虛焊；Ram Stress Test 能檢測SD內(nèi)存，也能檢測DDR內(nèi)存，是專業(yè)的內(nèi)存維修工具，完全可以取代昂貴的內(nèi)存檢測卡。

說明1

下載后解壓然后用UltraISO制作到U盤啟動，不依賴任何操作系統(tǒng)，只要BIOS能識別的內(nèi)存它都能檢測；具體操作請參閱包內(nèi)的操作說明，包內(nèi)軟件是用Nero燒錄可啟動光盤的軟盤鏡像文件。
Ram Stress Test是一款由美國Ultra-X公司開發(fā)的內(nèi)存檢測測試評測軟件，它以前是專門為內(nèi)存生產(chǎn)廠家開發(fā)制作的，后來流落到民間，深受廣大愛好者們的喜愛！

說明2

1、點不亮內(nèi)存的測試方法——很多內(nèi)存短路或者顆粒損壞后都不能點亮，點不亮的可以用一根好的內(nèi)存去帶動它（可解決部分點不亮問題）。必須SD的帶SD的，DDR的帶DDR的。本軟件會自動跳過好的去檢測壞的那根。
2、發(fā)現(xiàn) ATS 選項錯誤，在BIOS中，記憶體選項設成Auto時，記憶體的CL=2，改成Manual，自設CL=2.5時，上述選項才能通過。
3、程序執(zhí)行后，第一選項是測試物理內(nèi)存中基本內(nèi)存地址（<640K），第二項是擴展內(nèi)存地址，第三項是測試CPU的 L2 cache。
4、軟件為光盤鏡像文件，用刻錄機做成成啟動光盤（如需要軟盤版的請留言說明），使用非常簡易，電腦只要設定為軟、光盤啟動，插入制作好的盤即可自動運行。它是一個獨立開發(fā)的系統(tǒng)，沒有依附任何作業(yè)系統(tǒng)，相容于x86系列，只要BIOS認的到的容量都能測！
5、可以測試SD及DDR內(nèi)存。
6、閃動數(shù)字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
依次代表內(nèi)存條的8顆顆粒。
從左到右橫著數(shù)：0-7代表第1顆粒區(qū)域、8-F代表第2顆粒、0-7代表第3顆粒、8-F代表第4顆粒、0-7代表第5顆粒代、8-F代表第6顆粒、0-7代表第7顆粒、8-F代表第8顆粒

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